Statistische procesbeheersing
De nieuw ontworpen SEAMetal SPC-software is nu in het systeem geïntegreerd en stelt operators en beheerders in staat statistieken zowel lokaal als op afstand via het bedrijfsnetwerk (LAN) te bekijken.
Met de nieuwe SPC-software (Statistical Process Control) kunt u een overzicht krijgen van wat er gaande is, vervolgens kunt u inzoomen op een bepaald gegevenspunt, de waarden ervan zien, bij welk rapport het hoort, wie het gemeten heeft, alle rapporten zien die bij dat gegevenspunt horen en zelfs het beeld zien van de dubbele naadmeting waardoor dat gegevenspunt is ontstaan.
Deze verbazingwekkende drilldown-mogelijkheden geven de Q/A-manager een ongekende controle om potentiële problemen met dubbele naad na te gaan, te verifiëren of alles correct werkt met zeer weinig behoefte aan kennis van statistieken – alles wat u nodig hebt is gezond verstand.
Het nieuwe systeem is afgestemd op een gemakkelijk begrip van wat elke grafiek voorstelt en biedt drilldown-toegang tot alle relevante gegevenspunten. Het voorspellen van toekomstige problemen met behulp van statistische trends is nog nooit zo eenvoudig geweest.
Als u bijvoorbeeld een rood punt ziet, dat een punt vertegenwoordigt dat buiten de specificaties valt, kunt u onmiddellijk het rapport bekijken waar dat punt thuishoort, of zelfs een afbeelding bekijken van de naad die datzelfde punt heeft gegenereerd.
U kunt gemakkelijk trends bekijken en opsporen, en statistische gegevens analyseren.
Grafieken omvatten:
Histogram grafiek
X-bar grafiek
Bereik grafiek
Hoofd prestatie vergelijkingsgrafiek
Statistieken omvatten:
Gemiddeld
Standaardafwijking
CP
CPK
Kurtosis
Scheefheid
LCL
UCL
Filter op:
datumbereik
producttypes
exploitanten
Lijn
aangepaste velden (bv. product, klant, kan fabrikant)
Gratis als onderdeel van het volledige SEAMetal HD pakket!
Werkt op afstand en via bedrijfsnetwerk (LAN)
SKU: 420 354:00 / SFT-000021SPC
Toepassingen: Aerosol testen, Drank testen, Inspectie van dubbele naad, Kan Inspectie
Materialen: Metaal
SPC functies omvatten: Xbar, XbarR, bereik, hoofd vergelijking, histogram grafieken
© 2026 Industrial Physics. Alle rechten voorbehouden. Privacybeleid Toestemming beheren