Halbleiter

Halbleiter versorgen eine Vielzahl von Branchen – von der Unterhaltungselektronik über die Automobilbranche bis hin zur Industrie. Diese gemeinhin als Chips bezeichneten wesentlichen Komponenten ermöglichen Datenverarbeitung, Konnektivität, Sensorik und Energieeffizienz in einer Vielzahl von Produkten und Systemen.

Und die führende Technologie von Industrial Physics’ bietet in diesem Bereich eine wirklich bahnbrechende Lösung.

Halbleiterprüfgeräte für eine Reihe von Anwendungen

Halbleiter versorgen eine Vielzahl von Produkten, und je nach Zweck und Funktionalität sind unterschiedliche Tests erforderlich, um die Integrität des von Ihnen gewählten Produkts sicherzustellen. Über unsere Produktlinien hinweg bieten wir Tests für eine Vielzahl von Anwendungen an.

Ganz gleich, ob Sie auf der Suche nach Sauerstoffspurenanalysatoren, Messgeräten für die Schichtdicke oder Korrosionsprüfgeräten sind, wir können Ihnen helfen.

Sauerstoffanalyse für Halbleiter

Sauerstoff ist ein starkes Oxidationsmittel und verbindet sich leicht mit den meisten Elementen und Dichtmassen, um Oxide zu bilden. Diese Oxide sind Verunreinigungen, die viele Prozesse und Endprodukte negativ beeinflussen. Daher ist bei Halbleitertests eine strenge Sauerstoffkontrolle erforderlich.

Unsere Systech EC913 und ZR810 Prozess-Sauerstoffanalysatoren bieten einen Industriestandard bei der SMT (Surface Mount Technology) – sie verhindern Oxidation, gewährleisten die Qualität der Verklebung und unterstützen flussmittelfreie Prozesse für fortschrittliches Packaging. Diese Produkte können auch wichtige Tests zur Überwachung des Sauerstoffgehalts in Test- und Vakuumkammern durchführen.

Messung der Dicke der Folie

Eine präzise Kontrolle der Beschichtungen und der Schichtdicke ist bei der Halbleiterherstellung unerlässlich. Und unsere SpecMetrix®-Systeme bieten hochpräzise, berührungslose Messungen in Echtzeit, im Gegensatz zu herkömmlichen kontaktbasierten Methoden.

Mit dieser Lösung können Sie eine Vielzahl von Anwendungen testen, z. B. die Dicke von Fotolackbeschichtungen in der Lithografie, Isolations- und Passivierungsschichten, die Qualitätskontrolle bei der Dünnschichtabscheidung, die Schichtdicke beim Verpacken, die CMP-Überwachung (chemisch-mechanische Planarisierung), die Schichtdicke von Lithiumbatterien

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Halbleiterlösungen für Ihren Bedarf

Von der Korrosionsprüfung elektrischer Komponenten über die Kontaktwinkelanalyse von Halbleitern bis hin zu IP67-Leckage-, Durchfluss- und Druckabfalltests von Geräten – unsere Test- und Messlösungen in diesem Bereich sind umfassend.

Stöbern Sie in unserem breiten Lösungsportfolio, oder sprechen Sie mit unseren Experten, um weitere Informationen zu erhalten.